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產(chǎn)品類目

良好品質(zhì)，科技工業(yè)與世界同行

半導(dǎo)體設(shè)備

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組裝工具
一、扳手類工具 1. 十字扳手：可用于拆卸和裝配螺釘和螺母。 2. 工具扳手...
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科學(xué)儀器
科學(xué)儀器是用于科學(xué)目的的裝置或工具，包括研究自然現(xiàn)象和理論研究。科學(xué)儀...
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分析儀器
分析、測(cè)定設(shè)備：分析儀器屬于科學(xué)儀器的主要分支之一，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展...
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小型設(shè)備
隨著工業(yè)化的進(jìn)一步發(fā)展,小型機(jī)械設(shè)備在各個(gè)行業(yè)中的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。小型機(jī)...
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工業(yè)器材
FA （Factory Automation）（縮寫(xiě)：FA），工廠自動(dòng)化，也稱車(chē)間自動(dòng)化，指...
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防靜電設(shè)備
ESD防靜電設(shè)備是由除靜電風(fēng)機(jī)、離子風(fēng)槍、離子風(fēng)咀、離子風(fēng)蛇、離子風(fēng)棒、離...
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半導(dǎo)體泵
半導(dǎo)體泵（也稱為電子泵或電子真空泵）是一種利用半導(dǎo)體材料的電子傳輸特性...
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半導(dǎo)體流量計(jì)
流量計(jì)英文名稱是flowmeter，國(guó)內(nèi)科學(xué)技術(shù)名詞審定委員會(huì)把它定義為：指...
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產(chǎn)品列表

工藝造就品質(zhì)，品質(zhì)改變未來(lái)

Otsuka大塚紫外分光配光測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品信息特征通過(guò)分光光度分布對(duì)紫外光進(jìn)行高精度測(cè)量從配光上評(píng)估紫外光...
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Otsuka大塚紫外分光全光譜光測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品信息特征具有高靈敏度檢測(cè)器的寬測(cè)量范圍具有紫外線自吸收校正的高精...
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Otsuka大塚高速相位差測(cè)量裝置
產(chǎn)品信息特點(diǎn) 可測(cè)從0nm開(kāi)始的低（殘留）相位差光軸檢出同時(shí)可高速測(cè)量相...
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Otsuka大塚小角激光散射儀
PP-1000小角激光散射儀，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scatterin...
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Otsuka大塚橢偏儀
產(chǎn)品信息特點(diǎn) 可在紫外和可見(jiàn)（250至800nm）波長(zhǎng)區(qū)域中測(cè)量橢圓參數(shù) 可分析...
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Otsuka大塚nanoSAQLA
● nanoSAQLA是一臺(tái)通過(guò)動(dòng)態(tài)光散亂法（DLS法）測(cè)量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的...
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Otsuka大塚液晶層間隙量測(cè)設(shè)備
產(chǎn)品信息特點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝...
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Otsuka大塚彩色濾光片、光刻膠測(cè)量裝置
產(chǎn)品信息特點(diǎn) 以透過(guò)光譜測(cè)量、色測(cè)量為代表，通過(guò)濃度測(cè)量、膜厚測(cè)量、反...
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Otsuka大塚ZETA電位·粒徑·分子量測(cè)系統(tǒng)
產(chǎn)品信息特點(diǎn) 使用了*新型高感度APD，感度提升及縮短測(cè)量時(shí)間通過(guò)測(cè)量自動(dòng)...
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Otsuka大塚量子效率測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品信息特點(diǎn) 測(cè)量精度高可瞬間測(cè)量**量子效率（**量子收率）可去除再激...
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Otsuka大塚膜厚儀
可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式可測(cè)量0.1μm單位，具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量，...
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Otsuka大塚線掃描膜厚儀
采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜硬件軟件均為**設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提...
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Otsuka大塚線掃描膜厚儀
產(chǎn)品信息特點(diǎn) **高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測(cè) 硬件軟件均為*...
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Otsuka大塚膜厚檢測(cè)儀
產(chǎn)品信息特點(diǎn) 采用分光干涉法搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（** 第4834847號(hào)...
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Otsuka大塚Load Port對(duì)應(yīng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品信息特點(diǎn) 支持集成到 Φ300mm EFEM 單元的備用端口實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的...
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Otsuka大塚多通道光譜儀
標(biāo)準(zhǔn)型系統(tǒng)采用電子冷卻型圖像二極管,實(shí)現(xiàn)高S/N。輕量、緊湊的豎立式設(shè)計(jì)...
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Otsuka大塚多通道光譜儀
產(chǎn)品信息特長(zhǎng) 應(yīng)用廣泛的測(cè)量?jī)x。以*高機(jī)型MCPD-9800為首，一共有3種對(duì)應(yīng)...
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Otsuka大塚顯微分光膜厚儀
測(cè)量項(xiàng)目：[膜厚、折射率n、消光系數(shù)k]. 測(cè)量原理：[分光干涉法]. 測(cè)量對(duì)象...
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Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀
即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)...
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Otsuka大塚膜厚量測(cè)儀
大冢電子利用光學(xué)干涉儀和自有的高精度分光光度計(jì)，實(shí)現(xiàn)非接觸、無(wú)損、高速...
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