是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中*費(fèi)人工的成形製品表面 的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。
山田光學(xué)YAMADA半導(dǎo)體用鹵素光源照明裝置 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 特點(diǎn)介紹
高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工
是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中*費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。
用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
山田光學(xué)YAMADA半導(dǎo)體用鹵素光源照明裝置 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 規(guī)格參數(shù)
1、可照亮樣品表面400,000Lx以上。
2、光源采用鹵素?zé)?，色溫高，照度不均小，光線極其穩(wěn)定銳利。
3、采用冷鏡，熱量的影響極大地降低到傳統(tǒng)鋁鏡的1/3。
4、兩級(jí)切換機(jī)構(gòu)，一鍵實(shí)現(xiàn)高照度觀察和低照度觀察。
YP-150I 照度范圍：30mmφ
YP-250I 照度范圍：60mmφ
超精密平面檢測(cè)的理想選擇！通過(guò)驚人的照明，可以檢測(cè)小于 0.2 μm 的缺陷。
YP-150I”是一種用于顯微觀察的照明裝置，用于檢測(cè)
*終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧度、滑移等，是半導(dǎo)體加工過(guò)程中勞動(dòng)強(qiáng)度的一種。晶圓和液晶板
另外，由于采用鹵素?zé)糇鳛楣庠?，色溫高?/b>
光照不均勻的情況很少，光照***穩(wěn)定銳利。
姊妹機(jī)“YP-250I”也可用于 8 英寸。
光源采用鹵素?zé)?/b>
■ 可以將樣品表面照射到400,000 Lx或更高
■ 熱量的影響降低到傳統(tǒng)鋁鏡的1/3
■ 高照度觀察和低照度觀察可一鍵切換
請(qǐng)用于超精密平面檢測(cè)！
1. 可照明様品表面範(fàn)囲於400.000Lx以上。 2. 因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。 3. 冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3 4. 二段切換構(gòu)造，可用按扭切換高照明観察及低照明観察。 YP-150I???照度範(fàn)囲 φ30 YP-250I???照度範(fàn)囲 φ60 （YP-250I的通風(fēng)機(jī)可選択螺旋式風(fēng)扇或管道通風(fēng)機(jī)形）